納米位移臺探針通常指的是用于掃描探測物體表面形貌、化學成分等信息的微型探頭。在掃描探測過程中，探針與樣品表面之間會存在一定的作用力，探針的形狀、尺寸和材料都會對探測結果產生影響。常用的探針包括原子力顯微鏡（AFM）探針、掃描電子顯微鏡（SEM）探針等。
納米位移臺使用探針可以獲得高分辨率的表面形態(tài)和性質信息，因此被廣泛應用于材料科學、生物醫(yī)學、納米技術等領域的研究和應用中。例如，在材料科學領域，可以使用納米位移臺探針來研究材料的表面結構、形貌、力學和電學性質；在生物醫(yī)學領域，可以使用納米位移臺探針來研究細胞、蛋白質和DNA的形態(tài)、力學和電學性質。
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